箔材、隔離膜來料張力均勻性檢測(cè)，并通過對(duì)薄膜材料的波浪邊、塌邊幅度進(jìn)行測(cè)量，幫助客戶了解薄膜來料張力是否一致。

平整度測(cè)量原理

設(shè)備測(cè)量模塊由一個(gè)激光位移傳感器組成的，通過一定張力拉伸銅箔/鋁箔/隔離膜等基材后，激光位移傳感器測(cè)量基材波浪面的位置，從而計(jì)算出被測(cè)薄膜張力不均時(shí)的一個(gè)位置差。如圖:位置差C=B-A

光透過型激光傳感器測(cè)量原理

注: 此測(cè)量組件為雙模半自動(dòng)薄膜平整度測(cè)量?jī)x選配，部分設(shè)備不含此光透過型激光傳感器。

利用CCD光透過型激光傳感器進(jìn)行測(cè)厚，激光發(fā)射器發(fā)射一束線激光穿過被測(cè)物由 CCD 受光組件接受后，當(dāng)被測(cè)物在發(fā)射器和接收器之間時(shí)，接收器上會(huì)形成陰影。通過檢測(cè)亮到暗以及暗到亮的轉(zhuǎn)變，精確測(cè)量被測(cè)物的位置。